Brezplačna dostava za naročila nad 69.99 € na paketomatih Pošte Slovenije.
Postanite del skupnosti ljubiteljev knjig z vsega sveta in uživajte v številnih ugodnostih.
Ustvarite brezplačen račun
Brezplačna dostava Zásilkovna nad 69.99 €
Zbirna točka GLS 4.49 €
Zbirna točka DPD 2.99 €
Kurirska služba GLS 5.49 €
Kurir DPD 3.49 €
Kurirska služba 3.49 €
Zbirno mesto 3.49 €
Zbirno mesto 3.49 €
Dostava preko Pošte Slovenije 3.49 €
Kontakt
Kako nakupovati
Pomoč
Dostava
Zbirna točka GLS 4.49 €
Zbirna točka DPD 2.99 €
Kurirska služba GLS 5.49 €
Kurir DPD 3.49 €
Kurirska služba 3.49 €
Zbirno mesto 3.49 €
Zbirno mesto 3.49 €
Dostava preko Pošte Slovenije 3.49 €
Brezplačna dostava Zásilkovna nad 69.99 €
Svetovalec pri nakupu
Moj račun
▸
Prazna :-(
0
Brezplačna dostava za naročila nad 69.99 € na paketomatih Pošte Slovenije.
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Jezik
Angleščina
Angleščina
Knjiga
Mehka
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance...
Celoten opis
Koda Libristo: 21390170
?
118 b
118 b
48.86
€
Na zalogi pri dobavitelju
Odposlali bomo v 5-8 dneh
30 dni za vračilo blaga
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory. The author discusses background selection and address reordering alg
Igralka
&
Poliglotka
EWA KASP
za
Predvajaj video
Libristo ima največjo izbiro tujejezične literature. Zato svoje knjige kupujem tukaj.
O knjigi
Polni naslov
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Avtor
Ireneusz Mrozek
Jezik
Angleščina
Angleščina
Vezava
Knjiga - Mehka
Datum izida
2019
Število strani
135
EAN
9783030081980
ISBN
3030081982
Koda Libristo
21390170
Založba
Springer Nature Switzerland AG
Teža
454
Mere
155 x 235 x 9
