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Idealmente, la diffrazione dei raggi X da parte di un cristallo produce picchi di Dirac in corrispondenza degli angoli di diffrazione.La rappresentazione grafica dell'intensità diffratta in funzione dell'angolo 2 è chiamata diagramma di diffrazione, diffrattogramma o spettro di diffrazione.L'analisi dei modelli di diffrazione porta all'interpretazione delle strutture e delle proprietà microstrutturali dei campioni cristallizzati. Tuttavia, esistono diversi fattori che influenzano la posizione e l'ampiezza del picco e l'intensità diffratta, tra cui la dispersione spettrale, la rifrazione, il fattore di assorbimento e il fattore di Lorentz.
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