Brezplačna dostava za naročila nad 69.99 € na paketomatih Pošte Slovenije.

Preverjanje stanja naročila

Postanite del skupnosti ljubiteljev knjig z vsega sveta in uživajte v številnih ugodnostih. Ustvarite brezplačen račun

Brezplačna dostava Zásilkovna nad 69.99 €

Zbirna točka GLS 4.49 € Zbirna točka DPD 2.99 € Kurirska služba GLS 5.49 € Kurir DPD 3.49 € Kurirska služba Express One 3.49 € Zbirno mesto Express One 3.49 € Zbirno mesto Pošte Slovenije 3.49 € Dostava preko Pošte Slovenije 3.49 €

Kontakt

Kako nakupovati

Pomoč

Moj račun

▸ Prazna :-(

Brezplačna dostava za naročila nad 69.99 € na paketomatih Pošte Slovenije.

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Name: Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Brand: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
SKU: 13595194
Price: 150.33 EUR
Availability: InStock
Author: Pierre-Richard Dahoo
ISBN: 9781848219366

Pierre-Richard Dahoo

Philippe Pougnet

Abdelkhalak El Hami

Jezik

Angleščina

Knjiga Trda

Koda Libristo: 13595194

Založba ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, avgust 2016

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors presen...

Koda Libristo: 13595194

364 b

150.33 €

Na zalogi pri dobavitelju v majhnih količinah Odposlali bomo v 11-15 dneh

Do 30 dni za vračilo

Drugi so kupili tudi

de la Reduction Des Cinq Pour Cent, Et de la Facilite d'Acquitter Les Dettes Sans Auteur

Mehka

13.01 €

Parménides César Aira

Mehka

17.36 €

Des Innovations Dangereuses En Homoeopathie Alexis Espanet

Trda

25.54 €

Die Naturkräfte in Den Alpen Oder Physikalische Geographie Des Alpengebirges Friedrich Pfaff

Trda

261.70 €

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.