Brezplačna dostava za naročila nad 69,99 € na prevzemna mesta DPD in Express One.

Preverjanje stanja naročila

Postanite del skupnosti ljubiteljev knjig z vsega sveta in uživajte v številnih ugodnostih. Ustvarite brezplačen račun

Brezplačna dostava Zásilkovna nad 69.99 €

Zbirna točka GLS 4.49 € Zbirna točka DPD 2.99 € Kurirska služba GLS 5.49 € Kurir DPD 3.49 € Kurirska služba Express One 3.49 € Zbirno mesto Express One 3.49 € Zbirno mesto Pošte Slovenije 3.49 € Dostava preko Pošte Slovenije 3.49 €

Kontakt

Kako nakupovati

Pomoč

Moj račun

▸ Prazna :-(

Brezplačna dostava za naročila nad 69,99 € na prevzemna mesta DPD in Express One.

Data Mining and Diagnosing IC Fails

Name: Data Mining and Diagnosing IC Fails
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 07184089
Price: 97.4 EUR
Availability: InStock
Author: Leendert M. Huisman
ISBN: 9780387249933

Leendert M. Huisman

Jezik

Angleščina

Knjiga Trda

Koda Libristo: 07184089

Založba Springer-Verlag New York Inc., junij 2005

There are many techniques for analyzing IC fails. This book addresses the problem of obtaining maxim... Celoten opis

Koda Libristo: 07184089

236 b

97.40 €

Na zalogi pri dobavitelju Odposlali bomo v 10-13 dneh

Do 30 dni za vračilo

Drugi so kupili tudi

Игры с разумом. Принципы оптимального мышления для бизнеса, карьеры и личной жизни Альберт Сафин

Mehka

12.43 €

Conceptos generales sobre física radiológica, Técnicos Superiores en Higiene Bucodental Juan Manuel . . . [et al. ] Gil Ramos

Mehka

15.57 €

Von den Besiegten lernen? Esther-Julia Howell

Adobe ePub DRM

4.04 €

BABADADA black-and-white, slovenčina - norsk, obrazkovy slovnik - visuell ordbok Babadada Gmbh

Mehka

6.46 €

Novye slovoupotrebleniya v kazahskom i tureckom mediaprostranstve Akmaral Bisengali

Mehka

31.85 €

Venture-Capital-Gesellschaften und Grundungsunternehmen Solveig Reißig-Thust

Mehka

68.37 €

Torno a la Ciudad y La Forma Urbana M. Antonio Zárate Martín

Mehka

57.85 €

Kis Günesi Marcel Prevost

Mehka

7.78 €

Anlat Savas Abine Savas Ay

Mehka

8.69 €

There are many techniques for analyzing IC fails. This book addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis.