Brezplačna dostava za naročila nad 69,99 € na prevzemna mesta DPD in Express One.

Preverjanje stanja naročila

Postanite del skupnosti ljubiteljev knjig z vsega sveta in uživajte v številnih ugodnostih. Ustvarite brezplačen račun

Brezplačna dostava Zásilkovna nad 69.99 €

Zbirna točka GLS 4.49 € Zbirna točka DPD 2.99 € Kurirska služba GLS 5.49 € Kurir DPD 3.49 € Kurirska služba Express One 3.49 € Zbirno mesto Express One 3.49 € Zbirno mesto Pošte Slovenije 3.49 € Dostava preko Pošte Slovenije 3.49 €

Kontakt

Kako nakupovati

Pomoč

Moj račun

▸ Prazna :-(

Brezplačna dostava za naročila nad 69,99 € na prevzemna mesta DPD in Express One.

Advanced VLSI Design and Testability Issues

Name: Advanced VLSI Design and Testability Issues
Brand: Taylor & Francis Ltd
SKU: 37332130
Price: 63.08 EUR
Availability: InStock
Author: Suman Lata Tripathi
ISBN: 9780367538361

Suman Lata Tripathi

Sobhit Saxena

Sushanta Kumar Mohapatra

Jezik

Angleščina

Knjiga Mehka

Koda Libristo: 37332130

Založba Taylor & Francis Ltd, april 2022

This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its app... Celoten opis

Koda Libristo: 37332130

152 b

63.08 €

Na zalogi pri dobavitelju Odposlali bomo v 14-21 dneh

Do 30 dni za vračilo

Drugi so kupili tudi

LES INTERPRETES SOYINKA

Mehka

16.60 €

This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.