Napačna izbira? Nič za to! Ponujamo možnost vračila v 30 dneh
Z darilnim bonom ne morete zgrešiti. Obdarovanec lahko v zameno za darilni bon izbere karkoli iz naše ponudbe.
30 dni za vračilo blaga
Advanced Trace Analysis in six chapters, by eminent scientists, discusses statistical approaches to verify trace element analysis data, trace analysis techniques like ICPMS and XRF, ion beam analysis techniques, speciation analysis of uranium relevant to waste disposal and management along with the use of greener techniques for trace elemental speciation analysis.
Pozdravljeni! Sem Libroamiko, vaš knjižni svetovalec.
Kako vam lahko pomagam?