Spoštovane stranke, zaradi tehničnih razlogov služba za pomoč strankam danes ni na voljo. Vaše poizvedbe bomo obravnavali naslednji delovni dan. Hvala za razumevanje.

Brezplačna dostava za naročila nad 69,99 € na prevzemna mesta DPD in Express One.

Preverjanje stanja naročila

Postanite del skupnosti ljubiteljev knjig z vsega sveta in uživajte v številnih ugodnostih. Ustvarite brezplačen račun

Brezplačna dostava Zásilkovna nad 69.99 €

Zbirna točka GLS 4.49 € Zbirna točka DPD 2.99 € Kurirska služba GLS 5.49 € Kurir DPD 3.49 € Kurirska služba Express One 3.49 € Zbirno mesto Express One 3.49 € Zbirno mesto Pošte Slovenije 3.49 € Dostava preko Pošte Slovenije 3.49 €

Kontakt

Kako nakupovati

Pomoč

Moj račun

▸ Prazna :-(

Spoštovane stranke, zaradi tehničnih razlogov služba za pomoč strankam danes ni na voljo. Vaše poizvedbe bomo obravnavali naslednji delovni dan. Hvala za razumevanje.

Brezplačna dostava za naročila nad 69,99 € na prevzemna mesta DPD in Express One.

VLSI Design and Test

Name: VLSI Design and Test
Brand: Springer
SKU: 41333749
Price: 109.32 EUR
Availability: InStock
Author: Brajesh Kumar Kaushik
ISBN: 9789811074707

21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers

Brajesh Kumar Kaushik

Sudeb Dasgupta

Virendra Singh

Jezik

Angleščina

E-knjiga Adobe ePub DRM

Koda Libristo: 41333749

Založba Springer, december 2017

This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design an... Celoten opis

Koda Libristo: 41333749

265 b

109.32 €

Na zalogi Prenesi zdaj

Drugi so kupili tudi

H2O a poklad šíleného oka Petr Stančík

Zvočni CD

8.59 €

This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.