Brezplačna dostava za naročila nad 69.99 € na paketomatih Pošte Slovenije.
Postanite del skupnosti ljubiteljev knjig z vsega sveta in uživajte v številnih ugodnostih.
Ustvarite brezplačen račun
Brezplačna dostava Zásilkovna nad 69.99 €
Zbirna točka GLS 4.49 €
Zbirna točka DPD 2.99 €
Kurirska služba GLS 5.49 €
Kurir DPD 3.49 €
Kurirska služba Express One 3.49 €
Zbirno mesto Express One 3.49 €
Zbirno mesto Pošte Slovenije 3.49 €
Dostava preko Pošte Slovenije 3.49 €
Kontakt
Kako nakupovati
Pomoč
Dostava
Zbirna točka GLS 4.49 €
Zbirna točka DPD 2.99 €
Kurirska služba GLS 5.49 €
Kurir DPD 3.49 €
Kurirska služba Express One 3.49 €
Zbirno mesto Express One 3.49 €
Zbirno mesto Pošte Slovenije 3.49 €
Dostava preko Pošte Slovenije 3.49 €
Brezplačna dostava Zásilkovna nad 69.99 €
Svetovalec pri nakupu
Moj račun
▸
Prazna :-(
0
Brezplačna dostava za naročila nad 69.99 € na paketomatih Pošte Slovenije.
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Jezik
Angleščina
Angleščina
E-knjiga
Adobe ePub DRM
The rapid growth in the applications of electronic materials has created an increasing demand for re...
Celoten opis
Koda Libristo: 47351441
?
217 b
217 b
89.31
€
Na zalogi
Prenesi zdaj
The rapid growth in the applications of electronic materials has created an increasing demand for reliable techniques for examining and characterizing these materials. This book explores the area of x-ray diffraction and the techniques available for deployment in research, development, and production. It maps the theoretical and practical background necessary to study single crystal materials using high resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalism with graphical explanations and hands-on advice for interpreting data, thus providing the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization
Igralka
&
Poliglotka
EWA KASP
za
Predvajaj video
Libristo ima največjo izbiro tujejezične literature. Zato svoje knjige kupujem tukaj.
O knjigi
Polni naslov
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Avtor
D.K. Bowen, Brian K. Tanner
Jezik
Angleščina
Angleščina
Vezava
E-knjiga - Adobe ePub DRM
Datum izida
1998
Število strani
252
EAN
9781135478605
Koda Libristo
47351441
Založba
CRC Press
